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產品名稱:
射頻注入探頭
產品型號:
P500
產品展商:
Langer
產品文檔:
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簡單介紹
射頻注入探頭P500來自功率放大器的射頻干擾通過探頭流向被測針腳，同時在探頭**進行電流和電壓的測量。射頻注入探頭P500可以記錄下的參數(shù)可以繪制IC的EMC特性，得出更正確的結論。大電流時，因磁性原因產生功能故障，大電壓時，因耦合電容產生故障。
射頻注入探頭
的詳細介紹
產品說明：
一個固定功率的射頻通過耦合到IC針腳上來表征其抗干擾的能力。IC的故障則可顯示內部干擾。來自功率放大器的射頻干擾通過探頭流向被測針腳，同時在探頭**進行電流和電壓的測量。記錄下的參數(shù)可以繪制IC的EMC特性，得出更正確的結論。大電流時，因磁性原因產生功能故障，大電壓時，因耦合電容產生故障。新的測量程序下，無功電流的測量不能由一個共同的測量功率進行。因此，詳細的檢查結果仍是未知的。但是電路板的發(fā)展得益于新的測量方法，那就是射頻注入。
總體技術參數(shù)：
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探頭型號
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Probe 501
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Probe 502
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Probe 503
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電流表頻率
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2 MHz - 3 GHz
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2 MHz - 3 GHz
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200 kHz - 1.5 GHz
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大電流
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1 A
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1 A
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1 A
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電壓表頻率
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16 kHz - 3 GHz
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16 kHz - 3 GHz
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16 kHz - 3 GHz
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大電壓
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50 V
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1 V
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50 V
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轉移因子
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- 40 dB
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0 dB
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- 40 dB
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耦合電容
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3 μF oder 6.8 nF*
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3 μF oder 6.8 nF*
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3 μF oder 6.8 nF*
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大功率傳輸
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30 W
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30 W
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30 W
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輔助供電:
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12 V
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12 V
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12 V
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